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    JPS-9030 X射線光電子能譜儀

    X射線光電子能譜(XPS)可以定性檢測元素周期表中除H和He以外的幾乎所有元素,可以提供有關固體表面和界面的化學信息(元素種類、相對含量及價態信息)。此外,通過角分辨法及Ar離子剝離法可以提供元素深度分布信息,主要用于固體樣品表面的組成、化學狀態分析。能進行定性、半定量及價態分析。廣泛應用于聚合物、無機化合物、有機化合物、催化劑、涂層材料、納米材料、礦石等各種材料的研究,以及腐蝕、摩擦、潤滑、燃燒、粘接、催化、包覆、氧化等過程的研究。

    JPS-9200 X射線光電子能譜儀

    X射線光電子能譜(XPS)可以定性檢測元素周期表中除H和He以外的幾乎所有元素,可以提供有關固體表面和界面的化學信息(元素種類、相對含量及價態信息)。此外,通過角分辨法及Ar離子剝離法可以提供元素深度分布信息,主要用于固體樣品表面的組成、化學狀態分析。能進行定性、半定量及價態分析。廣泛應用于聚合物、無機化合物、有機化合物、催化劑、涂層材料、納米材料、礦石等各種材料的研究,以及腐蝕、摩擦、潤滑、燃燒、粘接、催化、包覆、氧化等過程的研究。
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